知乎用: 在學(xué)光學(xué)過程中,經(jīng)常會(huì)遇到衍射極限問題,同時(shí)會(huì)提到瑞利判據(jù),這個(gè)問題在電子顯微鏡中同樣存在,只是從光衍射成像變成了電子衍
Vol.33No.4 doi:10.3969/j.issn.1008-9640.2013.04.087 開封教育學(xué)院學(xué)報(bào) Journal Kaifeng stitu te Education 2013 Aug.202013 瑞利判據(jù)與光學(xué)系統(tǒng)
瑞利判據(jù)(衍射分辨極限).pdf,引言 引言 1. 電子衍射與電子顯微鏡: Thomas Young 雙縫衍射 2005-5-17 瑞利判據(jù)(衍射分辨極限) 瑞利判據(jù)(衍射分辨極限)
9005-5-17http://cem.whu.edu.cn引言引言1.:ThomasYoung雙縫衍射005-5-17http://cem.whu.edu.cn瑞利判據(jù)(衍射分辨極限)瑞利判據(jù)(衍射分辨極限)10005-5